6. X射線成像技術(shù)在BGA焊接質(zhì)量檢測中的應(yīng)用
BGA(球柵陣列封裝)是一種典型的高密度封裝技術(shù),其特點是芯片引腳以球形焊點按陣列形式分布在封裝下面,可使器件更小、引腳數(shù)更多、引腳間距更大、成品組裝率更高和電性能更優(yōu)良。
目前BGA焊接質(zhì)量檢測手段非常局限,常用的檢測手段包括:目檢、飛針電子測試、X射線檢測、染色檢測和切片檢測。其中染色和切片檢測為破壞性檢測,可作為失效分析手段,不適于焊接質(zhì)量檢測。無損檢測中目檢僅能檢測器件邊緣的焊球,不能檢測焊球內(nèi)部缺陷;飛針電子測試誤判率太高;而X射線檢測利用X射線透射特性,可以很好地檢測隱藏在器件下方的焊球焊接情況,是目前很有效的BGA焊接質(zhì)量檢測方法。
AXI(Automated X-Ray Inspection),自動X射線檢測,光學(xué)檢測系統(tǒng)的一種。
AXI是一種比較成熟測試技術(shù)。當(dāng)組裝好的線路板(PCBA)沿導(dǎo)軌進入機器內(nèi)部后,位于線路板上方有一X-Ray發(fā)射管,其發(fā)射的X射線穿過線路板后被置于下方的探測器(一般為攝象機)接受,由于焊點中含有可以大量吸收X射線的鉛,因此與穿過玻璃纖維、銅、硅等其它材料的X射線相比,照射在焊點上的X射線被大量吸收,而呈黑點產(chǎn)生良好圖像,使得對焊點的分析變得相當(dāng)直觀,故簡單的圖像分析算法便可自動且可靠地檢驗焊點缺陷。
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與破壞性測試相比,非破壞性測試具有以下特點:
1、是非破壞性的,AOI檢測機,因為它在測試時不會損壞檢測到的對象的性能;
2、是綜合性的,因為檢測是非破壞性的,因此如有必要,可以完全檢測出100%的被檢測對象,這對于破壞性測試是不可能的;
3、它是全過程的,破壞性測試通常僅適用于原材料的測試,例如拉伸,壓縮,彎曲等。
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