超聲波特點:
1.在空氣中不能傳播,遇到空氣100%反射。
2.超聲波在行經介質時,若遇到不同密度或彈性系數物質時,即會產生反射回波的特性,而此種反射回波強度會因材料密度不同而有所差異。
超聲波檢測原理:
C-SAM檢測(超聲波檢測)即利用此特性來檢出材料內部的缺陷并依所接收之訊號變化將之成像。
因此,只要被檢測的IC上表面或內部晶片構裝材料的界面有離層、空洞、裂縫等缺陷時,即可由C-SAM影像得知缺陷相對位置。
試塊的質量控制規(guī)范
1.制作試塊前應進行質量檢驗,確保材料和設備符合要求。
2.制作試塊過程中需要抽檢,對切割面和尺寸進行抽樣檢驗,確保試塊的質量。
3.對制作完的試塊進行全l面檢驗,包括外觀和尺寸檢測,確保試塊的合格率。
4.對試塊的質量問題和不合格品進行記錄和處理,及時采取措施進行糾正和改進。
試塊制作規(guī)范對于確保試塊質量和準確性非常重要。在制作試塊時,應根據相關標準和規(guī)范進行操作, 嚴格控制尺寸、材料和工藝等方面的要求,保證試塊的質量和合格率。同時,需要進行質量控制和質量檢驗,無損檢測試塊,及時發(fā)現(xiàn)和處理不合格品,以提高試塊的制作質量和可靠性。
試塊種類很多,從不同的角度可將試塊分為不同的類別。
按試塊標準化程度分類
按試塊的標準化程度可以將試塊分為標準試塊和對比試塊:
(1)標準試塊:標淮試塊是由權l(xiāng)威機構制定的試塊,試塊材質、形狀、尺寸及表面狀態(tài)都由權l(xiāng)威部門統(tǒng)一規(guī)定。國l際標準試塊和各個國l家的國l家標準試塊都是標準試塊。如國l際焊接學會IIW1試塊和IIW2試塊,又如我國的CSK-IA、日本的STB-G等試塊。
(2)對比試塊:對比試塊又稱參考試塊,是由各專l業(yè)部門按檢測對象的具體要求,對材質、形狀、尺寸及表面狀態(tài)等作出規(guī)定的試塊。對比試塊與標準試塊并無本質區(qū)別。如CS-1試塊、CSK-1A試塊等。
按試塊上人工反射體形狀分類
(1) 平底孔試塊:一般平底孔試塊上加工有底面為平面的平底孔,如CS-1、CS-2試塊。
(2)橫孔試塊:橫孔試塊上加工有與探測面平行的長橫孔或短橫孔,如焊縫探傷中CSK-IA(長橫孔)和CSK-IA(短橫孔)試塊。
(3) 槽形試塊:槽形試塊上加工有三角尖或矩形槽,如無縫鋼管探傷中的所用的試塊,內、外圓表面就加工有三角尖槽。
按用途分類
按試塊的用途,可將其分為效驗試塊和靈敏度試塊。
(1) 效驗試塊:用于測試和效驗探傷儀器的技術性能指標的試塊,稱為效驗試塊。如IIW試塊即是一種效驗試塊。效驗試塊多以其特定的邊緣作為反射面,因而這種試塊往往沒有人工缺陷。一般情況下,也叫定量試塊。一般對比試塊均作為靈敏度試塊使用。
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