Fluke 1770 系列三相電能質(zhì)量分析儀

自動捕獲測量數(shù)據(jù)

無論您是執(zhí)行快速系統(tǒng)檢查還是詳細(xì)的電能質(zhì)量研究，一致的數(shù)據(jù)都至關(guān)重要。Fluke 1770 系列提供了特別的測量數(shù)據(jù)自動捕獲系統(tǒng)，可幫助您確保每次都能采集正確的數(shù)據(jù)，同時還能根據(jù)需要靈活選擇和調(diào)整特定參數(shù)。默認(rèn)情況下，系統(tǒng)會捕獲 500 多個電能質(zhì)量參數(shù)，而引導(dǎo)式設(shè)置使您可以為正在處理的系統(tǒng)輕松選擇正確的參數(shù)。可通過 Fluke Energy Analyze Plus 軟件即時查看、收集和共享記錄的數(shù)據(jù)，福祿克過程校驗(yàn)儀供應(yīng)平臺，因此您無需等待完成記錄即可查看結(jié)果或分析數(shù)據(jù)。

出色的測量置信度

Fluke 1770 系列是 2 合 1 設(shè)備，它將電能質(zhì)量儀表的故障排除功能與獨(dú)立電能質(zhì)量分析儀的強(qiáng)大分析和記錄功能相結(jié)合，形成一個易于使用的手持設(shè)備。

“電能質(zhì)量儀表”功能使您可以在現(xiàn)場即時訪問實(shí)時屏顯數(shù)據(jù)，以便在故障排除時快速識別潛在問題。詳細(xì)的“電能質(zhì)量記錄和分析”功能可指導(dǎo)您完成設(shè)置過程，確保您每次都能捕獲正確的數(shù)據(jù)，從而使電能質(zhì)量研究變得簡單。將這些測量模式與特別的測量連接自動更正功能結(jié)合起來，您可以滿懷信心，無需再擔(dān)心返回進(jìn)行第二次測量，即使在開始時不確定要查找的內(nèi)容亦無妨。

Fluke Ti480U Ti401U Ti400U 紅外熱像儀

主要特性

搭載全新傳感器和光學(xué)系統(tǒng)，讓成像效果突破參數(shù)限制，圖像銳度進(jìn)一步提升，目標(biāo)輪廓更清晰，問題呈現(xiàn)更明了。

UltraFocus 對焦技術(shù)：圖像算法對焦，在復(fù)雜場景自動根據(jù)溫差， 1 秒由虛到實(shí)，有效對焦；激光自動對焦，自由選擇測試目標(biāo)；連續(xù)自動對焦功能，讓巡檢工作更輕松。

30Hz 幀頻，多方位“運(yùn)鏡”觀測暢快淋漓，視頻錄制不再丟幀卡頓。

測溫量程支持高 1200 ℃，驗(yàn)證更高工藝要求，探索更多研發(fā)領(lǐng)域。

支持多 10 倍數(shù)碼變焦，自由縮放屏幕，檢查遠(yuǎn)距離目標(biāo)：高壓設(shè)備、架空管道、大型機(jī)械設(shè)備。

SmartView IR 電腦軟件，處理熱像視頻，分析數(shù)據(jù)，導(dǎo)出報告，完成工作。

經(jīng)典工業(yè)設(shè)計：傳承銳智系列的外觀設(shè)計，及材質(zhì)用料，讓單手握持依舊舒適，且操作便捷，長時間使用不易疲勞。

在，伴隨全新傳感器的加持，銳智系列迎來“煥然新生”，在成像畫質(zhì)、對焦速度、測試功能方面獲得“質(zhì)”的飛躍。在保留經(jīng)典工業(yè)設(shè)計的同時，讓用戶發(fā)現(xiàn)使用體驗(yàn)的改善，與對實(shí)際工作的幫助。

我們相信工程師的每一天，都在讓周圍的事物變得更好，而福祿克也為這個共同的目標(biāo)精益求精，與用戶一起，不斷努力。

Fluke 1770 系列三相電能質(zhì)量分析儀

主要特性

自動測量功率和電能質(zhì)量參數(shù)，電能質(zhì)量狀況一目了然，加快故障排除速度，輕松查看 V/A/Hz、功率、驟降、驟升和諧波數(shù)據(jù)，捕獲高達(dá) 8 kV 的高速瞬變，直接通過測量電路供電，無需電源線。

自動測量。更靈活。更出色的電能質(zhì)量故障排除能力。

Fluke 1770 系列三相電能質(zhì)量分析儀使電能質(zhì)量記錄、故障排除和分析變得簡單。1770 系列的設(shè)計目標(biāo)是實(shí)現(xiàn)更快速、更輕松的電能質(zhì)量研究，提供自動測量、直觀用戶界面和設(shè)置，出色的規(guī)格以及簡化的報告平臺。該儀器還可以直接通過測量電路供電，無需尋找電源插座或使用很長的延長線。

使用 1770 系列，您將不會錯過關(guān)鍵的電能質(zhì)量事件—從高達(dá) 8 kV 的快速瞬變，高達(dá) 30 kHz 的諧波，到驟降和驟升，以及電壓、電流和功率測量，使您能夠?qū)﹄姎庀到y(tǒng)進(jìn)行方位的分析。